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簡要描述:VEO+ 多功能相控陣探傷儀是一款便攜式超聲波相控陣探傷儀,.其特點(diǎn)是操作簡單、高性能、功能*。技術(shù)人員可以能輕易以手指觸摸操作。儀器采用直觀的菜單系統(tǒng)和工作驅(qū)動(dòng)流程,有完整的說明菜單和向?qū)Р僮鳎瑫?huì)讓用戶通過掃描同時(shí)優(yōu)化。聲速、延遲、TCG、 DAC、TOFD的設(shè)置及編碼器校準(zhǔn)的快速高效向?qū)?,均作為?biāo)準(zhǔn)提供。
產(chǎn)品分類
Product classification詳細(xì)介紹
VEO+ 多功能相控陣探傷儀是一款便攜式超聲波相控陣探傷儀,.其特點(diǎn)是操作簡單、高性能、功能*。技術(shù)人員可以能輕易以手指觸摸操作。儀器采用直觀的菜單系統(tǒng)和工作驅(qū)動(dòng)流程,有完整的說明菜單和向?qū)Р僮?,?huì)讓用戶通過掃描同時(shí)優(yōu)化。聲速、延遲、TCG、 DAC、TOFD的設(shè)置及編碼器校準(zhǔn)的快速高效向?qū)?,均作為?biāo)準(zhǔn)提供。
VEO+ 多功能相控陣探傷儀能滿足大部份無損檢測(cè)(NDT)需要, 典型應(yīng)用包括焊縫檢測(cè)、腐蝕檢測(cè)、宇航領(lǐng)域和復(fù)合檢測(cè)等。
●多種配置可選:32:128PR, 16:128PR, ?16:64PR, 32:64PR
●能實(shí)示顯示S, L, A, B, C, TOFD 掃描
●能同步超聲波及相控陣檢測(cè)
●實(shí)時(shí)成像技術(shù)和3D掃描融為一機(jī)
●具有集成數(shù)據(jù)記錄功能、可自動(dòng)生成?PDF報(bào)告
●外殼堅(jiān)固,符合IP66標(biāo)準(zhǔn),可在?惡劣的環(huán)境條件下檢測(cè)
●具有中文操作界面
●內(nèi)建128GB SSD存儲(chǔ)盤
●支持WiFi無線連接
VEO+是一款便攜式超聲波相控陣探傷儀,.其特點(diǎn)是操作簡單、高性能、功能*。技術(shù)人員可以能輕易以手指觸摸操作。
儀器采用直觀的菜單系統(tǒng)和工作驅(qū)動(dòng)流程,有完整的說明菜單和向?qū)Р僮?,?huì)讓用戶通過掃描同時(shí)優(yōu)化。
聲速、延遲、TCG、 DAC、TOFD的設(shè)置及編碼器校準(zhǔn)的快速高效向?qū)?,均作為?biāo)準(zhǔn)提供。校準(zhǔn)狀態(tài)通過一個(gè)簡單的轉(zhuǎn)換系統(tǒng)清晰的顯示在屏幕上,veo是否已校準(zhǔn)用于檢測(cè)任務(wù),操作者可一目了然。
VEO+能滿足大部份無損檢測(cè)(NDT)需要, 典型應(yīng)用包括焊縫檢測(cè)、腐蝕檢測(cè)、宇航領(lǐng)域和復(fù)合檢測(cè)等。
主要特點(diǎn):
● 16:64 相控陣 (16 脈沖發(fā)生/接收器, 上升至64元素)
● 可升級(jí)至16:128 (16 脈沖發(fā)生/接收器, 上升至128元素)
● 快速編碼器掃描,能實(shí)示顯示S, L, A, B, C, TOFD 掃描
● 能同步超聲波及相控陣檢測(cè)
● 內(nèi)建6GB 存儲(chǔ)盤, 能通過USB 鑰匙增加容量
● 熱插入式充電池
3D掃描圖
VEO+掃描支持多探頭和多重掃描,可從許多來源快速有效的設(shè)置檢測(cè)計(jì)劃。可從一定范圍的幾何學(xué)焊縫中選擇,并可顯示出你已選擇用于檢測(cè)工件的探頭。多重跳轉(zhuǎn)路徑顯示在3D掃描圖上,使用者可確保*覆蓋焊縫檢測(cè)。有簡單的參考點(diǎn)指示,可以快速確定探頭在工件上所處的位置。
TOFD
VEO+能包括用于TOFD檢測(cè),采用的模擬濾波器及加上低噪聲的放大器,高速數(shù)據(jù)采集和高清晰度顯示,高品質(zhì)的TOFD掃描可以與相控陣同時(shí)查看。在焊縫檢測(cè)時(shí),相控陣和TOFD檢測(cè)可以一起評(píng)價(jià)以提高可信度。
多重掃描
VEO+可以快速設(shè)置為顯示一個(gè)大范圍的多重掃描視圖。這允許使用者選擇一個(gè)重要的檢測(cè)視圖,并獲得顯示效果。扇形掃描、頂部、邊部和端視圖都可以結(jié)合多重A掃描視圖和TOFD。指針和標(biāo)尺可用于在視圖中識(shí)別軌跡,實(shí)時(shí)測(cè)量工具可顯示尺寸和注釋。
A掃描
VEO+支持傳統(tǒng)的用單晶探頭的超聲波檢測(cè)。高分辨率的LCD和快速的圖形重現(xiàn),確保高的精度水平和快速的交互式波形顯示。由于高分辨率的LCD顯示,測(cè)量清晰易讀,寬屏幕模式提供了巨大的掃描視窗區(qū)域。
UT Studio
UT Studio是基于計(jì)算機(jī)的相控陣分析和生成報(bào)告的分析軟件。記錄的veo+數(shù)據(jù)文件可以很容易的通過U盤傳輸,并用于生成新的視窗和影像。使用者可以簡單的將veo+數(shù)據(jù)文件拖拽到顯示模板中以創(chuàng)建多個(gè)視窗。
軟件內(nèi)包括了強(qiáng)大的測(cè)量指針和抽取器用于識(shí)別軌跡、尺寸和標(biāo)注缺陷。容易生成報(bào)告,并以PDF格式輸出。
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